Wydawnictwo CAPH w Pekinie w 2022 roku opublikowało monografię „Introduction to Quantum Metrology” autorstwa Waldemara Nawrockiego, emerytowanego profesora WIiT. Książka poświęcona jest metrologii kwantowej, czyli pomiarom o największej dokładności, którą uzyskuje się korzystając z efektów fizyki kwantowej. 

Książka stanowi tłumaczenie z języka angielskiego na chiński monografii „Introduction to Quantum Metrology” wydanej przez Springer (wydanie 2, 2019). 

Jest to pierwsza na rynku księgarskim książka z opisem nowego, międzynarodowego systemu miar SI z 2018 r.  Sam nowy system SI 2018 nazywany jest także Quantum SI. Książka jest polecana jako podręcznik do wykładów z metrologii.